射频导纳物位开关

 传统的电容式物位开关，随着物料上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于在探头外壁物料挂料多少的变化导致了电容值的变化，电容值的变化通过电桥的检波、放大、计算，最后输出产生相应的电量变化

射频导纳原理测量技术是经过改良的物位测量技术。该系列产品应用了射频信号，并加入了

Driving-Shield电路，屏蔽了干扰信号和物料变化产生的信号。Drivina-Shied电路能够阻止射频电

流通过挂料形成回路，由挂料产生的影响能够被识别，并且通过电桥的移相等处理从总的输出中消除掉探头端挂料对测量的影响，因此该系列产品具有很强的抗干扰和抗挂料能力。

射频导纳技术测量结果精度高，不受探头挂料的影响，是目前使用场合最广泛的一种测量技术。